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- F54-XYT-300薄膜厚度测量仪
借助F54-XYT-300薄膜厚度测量仪的光谱反射系统,可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
- 型号:F54-XYT-300
- 更新日期:2023-08-22 ¥面议
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- F54-XY-200薄膜厚度测量仪
借助F54-XY-200薄膜厚度测量仪光谱反射系统,可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
- 型号:F54-XY-200
- 更新日期:2023-08-22 ¥面议
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- F32-Filmetrics光学膜厚测量仪
-Filmetrics光学膜厚测量仪:F32的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本多两个位置)。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件,以便于集成到现有的生产装置上。
- 型号:F32
- 更新日期:2023-06-05 ¥面议
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- F20-Filmetrics光学膜厚测量仪
-Filmetrics光学膜厚测量仪:不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点,F20适用于各种应用:
- 型号:F20
- 更新日期:2023-06-05 ¥面议
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