HORIBA 离心式纳米粒度分析

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪产品介绍：

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪能实现对未稀释和稀释样品粒径分布的高精度测量。

颗粒的粒度是按粒径大小分类后测量的，这是离心分离法的关键特点。因此，一次测量就能得到宽范围内的精度结果。HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪可提供两种测量方法:密度梯度模式和均一模式"。

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪产品特点：

可捕捉到少量杂质颗粒或团聚体

  HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪因其高分辨率可以捕获到少量的杂质颗粒。它能让你在全粒径分布范围内获得可靠的测量结果，包括含量少占比低的颗粒群的结果。

仪器在长时间测量后性能依然稳定

  样品室和转盘具有冷却功能，可防止样品在旋转过程中温度升高。通过保持溶剂的粘度恒定提升测量结果的可靠性。HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪非常安静，操作也简单安全。

坚固耐用易操作

  仅需将样品注入样品池

  比色皿式样品池易清洁、易更换，减少样品交叉污染的风险。

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪测量原理：

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪是‌基于离心分离法，通过测量颗粒在离心力作用下的沉降速度来推导其粒径大小，从而获得粒径分布信息。具体来说，CN-300心式纳米粒度分析仪利用颗粒在离心力作用下的沉降速度与粒径的关联，通过精确测量沉降速度来推导颗粒的大小，进而获得粒径的详尽分布‌。

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪主要应用：

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪密度梯度模式与均一模式的差异：

1. 密度梯度模式

§ 样品被注入密度梯度溶液中，颗粒的大小是通过计算颗粒到达检测器所需的沉淀时间得到的。这种模式使您能够高分辨率地测量非常少量的高浓度样品。

2. 均一模式

§ 离心沉降发生在均匀的样品体系中，粒径分布是根据颗粒通过检测区域的信息计算得到的。这种模式话合干测量低浓度样品。

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪产品参数：

HORIBA CN-300离心式纳米粒度分析仪测量案例：

高分辨率测量粒径分布

下图为离心粒度仪测量含有四种相同浓度的二氧化硅标准颗粒的混合样品的结果，四种不同粒径颗粒所占面积几乎相同。因为颗粒按离心力分类，使用密度梯度模式测量可以获得准确的粒度分布。

样品：标准颗粒（取0.48um、0.73um、0.99um、1.57um标准样品各一滴后进行混合）

进样量：10uL

溶剂：蔗糖溶液

测量条件：密度梯度模式

少量高浓度样品粒径分布的测量

离心粒度仪可以测量其他方法难以测量的高浓度样品，如用于喷墨打印机的未稀释黑色颜料，并得到高精度的测量结果，所需样品量仅为2μL。

样品：喷墨打印机黑色颜料（未稀释溶液）

进样量：2uL

溶剂：蔗糖溶液

测量条件：密度梯度模式