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光学表面轮廓仪:从微观形貌到宏观几何的精密解析
2026-9-14
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光学表面轮廓仪是一种集光、机、电于一体的高精度检测设备,主要用于分析物体表面的微观与宏观几何形貌。它利用激光位移传感器或白光干涉等光学原理,在不接触被测物体表面的情况下,快速获取其三维轮廓数据。这种非接触式的测量方式,不仅避免了传统触针式仪器可能划伤样品的风险,还能有效应对软质材料、易变形表面以及复杂曲面的检测需求,广泛应用于半导体、精密加工、航空航天及科研实验等领域。在实际应用中,光学表面轮廓仪能够对粗糙度、台阶高度、薄膜厚度、波纹度等多种参数进行量化分析。设备通常配备高分... -
光学膜厚测量仪适用于哪些薄膜检测场景?
2026-9-11
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光学膜厚测量仪是薄膜行业专用的非接触式检测设备,主要用于测定各类透明、半透明薄膜的涂层厚度,同时可辅助检测薄膜相关光学参数。现代光电、半导体、显示行业的薄膜涂层厚度较薄,传统机械式测量方式容易划伤样品、产生形变,且检测精度有限。光学膜厚测量仪依托光学干涉技术完成检测,无需接触样品表面,不会对薄膜结构造成损伤,适配精密薄膜工件的批量检测与科研测试需求。该设备主要由宽光谱光源、光学探测模块、光谱分析组件与数据处理系统构成。工作过程依托光的干涉与反射原理,通过解析光谱信号变化换算薄... -
钙钛矿太阳能电池膜厚测量指南
2026-9-4
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钙钛矿太阳能电池膜厚测量指南从TCO到金属电极,逐层拆解钙钛矿光伏器件的膜厚测量方案。无论你是刚入行的工艺工程师,还是经验丰富的研发负责人,这篇指南都将为你提供可落地的测量策略。优尼康科技专注薄膜测量领域十三年,为钙钛矿光伏行业提供从实验室研发到量产产线的全流程膜厚测量解决方案。目录1.为什么膜厚控制是钙钛矿器件的生命线2.钙钛矿器件典型结构及各层测量需求3.湿膜vs干膜:被忽视的测量窗口4.大面积膜厚均匀性:从点到面的质变5.常见测量方法对比与选型建议6.实操中的五大常见误... -
钙钛矿光伏从实验室到量产:膜厚控制挑战与解决方案
2026-9-4
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钙钛矿光伏从实验室到量产:膜厚控制挑战与解决方案从0.1cm²的器件到1m²的商业化模组,膜厚控制的复杂度呈指数级增长。本文系统梳理钙钛矿光伏在放大过程中面临的膜厚测量与控制挑战,并提供经过验证的工程解决方案。优尼康科技专注薄膜测量十三年,为钙钛矿行业提供从实验室到量产的全流程膜厚控制支持。目录1.引言:钙钛矿光伏的量产拐点2.R&D阶段vs量产阶段:测量需求的范式转移3.在线测量vs离线测量:场景决定方案4.关键工艺环节的膜厚控制方案5.产线集成:从单机测量到系统化控制6.... -
AI算力驱动重构,存储与代工供应持续紧张
2026-9-3
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一、市场综述:AI算力驱动产业重构,板块短期波动加剧2026年7月5日,全球半导体行业在AI算力需求的强劲驱动下持续深层次重构,但短期市场波动显著加剧。一方面,瑞银、美银、野村证券等国际投行密集发布研报,普遍看好AI基础设施相关的半导体板块长期前景;另一方面,费城半导体指数在7月首周遭遇剧烈抛售,两个交易日累计跌超11%。这种“基本面强劲、短期回调”的格局,成为当前半导体行业的典型特征。瑞银(UBS)在最新报告中指出,科技行业正在发生“非同寻常”的转变,人工智能基础设施的表现... -
KRUSS水滴角测量仪,从膜厚到表界面特性的检测维度
2026-9-3
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KRUSS水滴角测量仪,从膜厚到表界面特性的检测新维度行业背景在半导体、显示面板、新材料这些领域中,材料的表面性能往往与产品的质量和可靠息息相关。优尼康科技有限公司这些年一直专注于膜厚测量、表面形貌测量,材料力学性能测试、表面缺陷检测等领域。帮用户解决对应的问题。但随着客户对产品性能的要求越来越高,新的需求不断冒出来,厚度和形貌都测出来了,表界面的特性该如何去量化呢?举几个例子。半导体厂里,晶圆经过RCA标准清洗之后,表面到底干不干净?可以通过测量清洗后的表面接触角,看有没有...

