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关于XRF镀层测厚仪的优势和原理你了解吗?

2020-03-19 [642]
   XRF镀层测厚仪又叫膜厚仪、膜厚测试仪、膜厚计或者镀层测厚仪(比如GT810F、GT810NF、GT8102等),可无损地测量磁性金属基体(如:钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。XRF镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和产品质量*的检测仪器。
  XRF镀层测厚仪的优势如下:
  1、对于压敏胶,涂布/纸加工,烟草薄片,水性涂层,热熔胶等材料,赛默斐视薄膜XRF镀层测厚仪拥有非接触测量的优势。
  2、在测量速度的基础上,XRF镀层测厚仪能够将被测物微小的厚度变化完整地呈现出来。
  3、XRF镀层测厚仪能拥有*的重复性,预计GRR能够达到5%左右。
  XRF镀层测厚仪作业原理
  膜厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
  a)磁性法(F型测量头)
  当测量头与覆盖层接触时,测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
  b)涡流法(N型测量头)
  利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测量头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测量头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。