关于XRF镀层测厚仪的优势和原理你了解吗？
2020-03-19
[715]
XRF镀层测厚仪又叫膜厚仪、膜厚测试仪、膜厚计或者镀层测厚仪（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可无损地测量磁性金属基体（如：钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等），以及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。XRF镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和产品质量*的检测仪器。
XRF镀层测厚仪的优势如下：
1、对于压敏胶，涂布/纸加工，烟草薄片，水性涂层，热熔胶等材料，赛默斐视薄膜XRF镀层测厚仪拥有非接触测量的优势。
2、在测量速度的基础上，XRF镀层测厚仪能够将被测物微小的厚度变化完整地呈现出来。
3、XRF镀层测厚仪能拥有*的重复性，预计GRR能够达到5%左右。
XRF镀层测厚仪作业原理
膜厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
a)磁性法(F型测量头)
当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
b)涡流法(N型测量头)
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
