产品中心
相关文章
  • K系列博曼BOWMAN高精度镀层测量仪

    美国博曼K系列XRF高精度涂层测量系统,具备12英寸×12英寸的测量区域,适用于多种样品检测。

    型号:K系列
    更新日期:2024-11-13
    面议
  • B系列博曼BOWMAN高性能XRF镀层测厚仪

    B系列是博曼的基础机型和常规机型。该型号采用自上而下的测量方式。配备固定样品台可实现手动操作。测量时将样品放入样品仓,通过观察视频图像来对准屏幕上十字线内的位置来完成测量。

    型号:B系列
    更新日期:2024-11-13
    面议
  • F54-XYT-300薄膜厚度测量仪

    借助F54-XYT-300薄膜厚度测量仪的光谱反射系统,可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

    型号:F54-XYT-300
    更新日期:2024-07-24
    面议
  • F54-XY-200薄膜厚度测量仪

    借助F54-XY-200薄膜厚度测量仪光谱反射系统,可以轻松地测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量,达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性,矩形或线性测量坐标图案中选择,也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置,任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

    型号:F54-XY-200
    更新日期:2024-07-24
    面议
  • Auto SEHORIBA 一键式全自动快速椭偏仪

    HORIBA 一键式全自动快速椭偏仪是新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。

    型号:Auto SE
    更新日期:2023-08-22
    面议
  • Smart SEHORIBA 智能型多功能椭偏仪

    HORIBA 智能型多功能椭偏仪,多功能性设计,配置灵活,具备多角度测量能力,可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单,快速,表征和分析的工具。

    型号:Smart SE
    更新日期:2023-06-06
    面议
  • UVISEL PlusHORIBA 研究级经典型椭偏仪

    HORIBA 研究级经典型椭偏仪是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十微米。此外,还可以测试材料的反射率及透过率。

    型号:UVISEL Plus
    更新日期:2023-06-06
    面议
  • F32-Filmetrics光学膜厚测量仪

    -Filmetrics光学膜厚测量仪:F32的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘,加上附加的分光计,可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本多两个位置)。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件,以便于集成到现有的生产装置上。

    型号:F32
    更新日期:2024-07-24
    面议
共 26 条记录,当前 1 / 4 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页