-
- F10-RTFilmetrics薄膜厚度测量仪
Filmetrics薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT 薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。
- 型号：F10-RT
- 更新日期：2025-09-12 ￥面议
-
- F20Filmetrics 单点光学膜厚测量仪
无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪适用于各种应用。
- 型号：F20
- 更新日期：2025-06-24 ￥面议
-
- F40Filmetrics 光学膜厚测量仪
Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪。使用先校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。
- 型号：F40
- 更新日期：2025-06-24 ￥面议
-
- F50Filmetrics 光学膜厚测量仪自动化MAPPING
Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统，可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪配置精度高使用寿命长的移动平台，以求能够做成千上万次测量。
- 型号：F50
- 更新日期：2025-06-24 ￥面议
-
- F54-XY-200Filmetrics 自动光学膜厚测量仪
Filmetrics 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。
- 型号：F54-XY-200
- 更新日期：2025-09-23 ￥面议
-
- RC2J.A. Woollam 双旋转补偿器光谱椭偏仪
J.A. Woollam 双旋转补偿器光谱椭偏仪。RC2 采用双旋转补偿器设计，可完整采集 4×4 穆勒矩阵的 16 个元素，同步采集 1000 个以上波长点，光谱覆盖 193-2500nm（视配置），适合各向异性材料、液晶器件与纳米结构表征。
- 型号：RC2
- 更新日期：2026-10-10 ￥面议
-
- M-2000J.A. Woollam 旋转补偿式光谱椭偏仪
J.A. Woollam 旋转补偿式光谱椭偏仪。M-2000 采用旋转补偿椭偏（RCE）架构配合高速 CCD，单次同步采集 700 个以上波长，采集速率每秒 20 次，光谱覆盖 193-1690nm（视配置），支持腔室原位与台式离线两种配置，适合半导体、显示、光伏薄膜表征。
- 型号：M-2000
- 更新日期：2026-10-10 ￥面议
-
- theta-SEJ.A. Woollam 晶圆 Mapping 椭偏仪
J.A. Woollam 晶圆 Mapping 椭偏仪。theta-SE 是面向薄膜均匀性表征的台式光谱椭偏仪，内置 300mm Mapping 台，一键完成薄膜厚度与折射率的全片均匀性测量，光谱 400-1000nm 共 190 个波长点，单次采集可快至 0.3 秒，适合半导体晶圆的均匀性检测与量产监控。
- 型号：theta-SE
- 更新日期：2026-10-10 ￥面议
