Nanosurf AFM原子力显微镜产品主要特点: 高起伏样品或多个样品自动纳米机械性能分析 针对不同模型来测量粘弹性、硬度、黏附力与压入深度 智能软件自主处理测量需求 样品高度起伏大可达5mm，力谱曲线大范围Z向可达100μm 分析软件可用于大批量与复杂数据的轻松比对

型号：Flex-ANA

更新日期：2023-06-06

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Nanosurf 真空环境用原子力显微镜AFM产品主要特点: 实时在您的真空环境中进行AFM分析 方便集成在SEM中进行相关AFM分析 兼容于大多数电镜而不影响SEM正常操作 可适配真空腔室环境兼容大气环境测量 操作简便而直观

型号：AFSEM

更新日期：2023-07-24

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光学3d表面轮廓仪让3D光学轮廓测量的价格变得能够接受。Profilm3D使用垂直干涉扫描（WLI）与高精度的相位干涉（PSI）技术。以很低的价格实现次纳米级的表面形貌研究。

型号：Profilm3D

更新日期：2024-07-24

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光学轮廓仪厂家 支持3D量测和成像功能，并提供整合隔离工作台和晶圆盒到晶圆盒的晶圆传送系统，可实现全自动测量。该系统采用ZDot技术，可同时采集高分辨率3D数据和True Color（真彩）无限远焦点图像。Zeta-388具备Multi-Mode（多模式）光学系统、简单易用的软件、低拥有成本，以及SECS / GEM通信，适用于研发及生产环境。

型号：Zeta-388

更新日期：2024-07-24

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光学表面轮廓仪让3D光学轮廓测量的价格变得能够接受。Profilm3D使用垂直干涉扫描（WLI）与高精度的相位干涉（PSI）技术。以低的价格实现次纳米级的表面形貌研究。

型号：Profilm3D

更新日期：2024-07-24

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Profilm3D光学轮廓仪让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用垂直干涉扫描（WLI）与高精度的相位干涉（PSI）技术。以优势的价格实现次纳米级的表面形貌研究。

型号：Profilm3D

更新日期：2023-06-05

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P-170台阶仪是cassette-to-cassette探针式轮廓仪，可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能，适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有的图案识别算法、增强的光学系统和的平台，这了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求。

型号：P-170

更新日期：2023-07-24

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P-17台阶仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

型号：P-17

更新日期：2023-07-24

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