使用XRF镀层测厚仪时应当遵守的规定有哪些呢？

　　使用XRF镀层测厚仪时应当遵守的规定有哪些呢？

　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

　　随着技术的日益，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的XRF镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。XRF镀层测厚仪适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

　　采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使的检测工作经济地进行。

　　XRF镀层测厚仪有以下主要优点：

　　1. 测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；

　　2. 精度高 ：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到*的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；

　　3. 稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；

　　4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法

　　使用XRF镀层测厚仪时应当遵守的规定：

　　a、基体金属特性

　　对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

　　对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。

　　b、基体金属厚度

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

　　c、边缘效应

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　d、曲率

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　e、读数次数

　　通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。