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使用XRF镀层测厚仪时应当遵守的规定有哪些呢?

2020-09-27 [566]
  使用XRF镀层测厚仪时应当遵守的规定有哪些呢?
  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
  随着技术的日益,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的XRF镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。XRF镀层测厚仪适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。
  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使的检测工作经济地进行。
  XRF镀层测厚仪有以下主要优点:
  1. 测量速度快:测量速度比其它TT系列快6倍;
  2. 精度高 :本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到*的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高;
  3. 稳定性:测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品;
  4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法
  使用XRF镀层测厚仪时应当遵守的规定:
  a、基体金属特性
  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
  b、基体金属厚度
  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
  c、边缘效应
  不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
  d、曲率
  不应在试件的弯曲表面上测量。
  e、读数次数
  通常由于仪器的每次读数并不*相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。