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光学薄膜厚度测量仪的四大优点和应用领域介绍

2020-12-25 [765]
  光学薄膜厚度测量仪是一种非接触式测量仪器,一般会运用在生产厂商生产产品的过程,由于误差经常会导致产品全部报废,这时候就需要运用光学薄膜厚度测量仪来介入到生产环境,避免这种情况的发生。由于是光学测量,在测量时候无须担心破坏样品,让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。
  光学薄膜厚度测量仪的优点:
  1.非接触式测量
  光学薄膜厚度测量仪采用的原理是通过光的反射原理对膜层厚度进行测量,属于非接触式测量方法,不会对样品造成任何损伤,能够样品的完整性。
  2.测量数据多样
  可以测得物体的膜厚度和n,k数据,这是其它类型的膜厚仪所不具备的特点。
  3.测量快速
  光学薄膜厚度测量仪的测量过程非常快速,因为该设备采用了的结构设计,能够程度的提升测量效率,相比于其他类型膜厚测量设备来说显得非常轻巧方便。
  4.适用范围广
  光学薄膜厚度测量仪的适用范围非常广泛,从普通家用到工厂的工业生产,再到大学实验室和科学研究所,都可以看到它的身影,由此可见它的使用范围广泛,能够作业的场合也变得更加多样化。
  光学薄膜厚度测量仪主要应用在:
  半导体行业如:光刻胶的厚度测量;加工膜层的厚度测量,介电层的厚度测量等。
  液晶显示器行业如:OLED领域各种透明薄膜的厚度测量,玻璃上面涂层的厚度测量等
  光学镀层行业如:硬涂层,抗反射层等涂层厚度测量。
  生物医学行业如:聚对二甲苯,医疗器械等领域可透光涂层膜厚的测量。
  光学薄膜厚度测量仪应用领域广阔,适用于多种行业以及大学实验室等,提供低至纳米级别的薄膜厚度测量可能。
  以上就是今天为大家带来关于光学薄膜厚度测量仪的相关科普介绍,供大家探讨和参考!