XRF镀层测厚仪的工作原理和影响测量因素

　　XRF镀层测厚仪主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

　　XRF镀层测厚仪的测量工作原理：

　　1、磁性测厚法：

　　适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢铁银镍。此种方法测量精度高（如：铁等磁性材料）

　　2、涡流测厚法：

　　涡流测量原理是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。与磁感应测厚法一样，涡流测厚法也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

　　影响XRF镀层测厚仪的因素有：

　　1、试件的变形：丈量头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出牢靠的数据。

　　2、边缘效应：本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行丈量是不牢靠的。

　　3、基体金属电性质：基体金属的电导率对丈量有影响，而基体金属的电导率与其资料成分及热处理方法有关。运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准。

　　4、基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，丈量就不受基体金属厚度的影响。

　　5、曲率：试件的曲率对丈量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在曲折试件的表面上丈量是不牢靠的。

　　6、基体金属磁性质：磁性法测厚受基体金属磁性改变的影响(在实践运用中，低碳钢磁性的改变能够认为是轻微的)，为了防止热处理和冷加工因素的影响，应运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。