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Filmetrics 薄膜测厚仪
2016/8/17 [1974]

Filmetrics 薄膜测厚仪

Filmetrics F40 薄膜测厚仪结合显微镜的薄膜测量系统

Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。

当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,F40是的选择。使用先前足部校正显微镜的物镜,再进行测量,即可获得的厚度及光学参数值。只要透过FilmetricsC-mount连接附件,F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头,可以让用户从电脑屏幕上清晰地看到样品和测量位置。

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