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深圳半导体展览会圆满闭幕

2019-06-20 [937]

为期三天的Semiexpo Shenzhen 2019深圳半导体展览会已于2019年6月16日于深圳会展中心圆满闭幕。

欣逢盛会,优尼康科技携数台产品赴会。其中Profilm3D光学轮廓仪,其低成本,高精度,超大的视场范围面积,让光学轮廓测量变得容易承受;Filmetrics F50反射式膜厚仪,简单快速地获得薄膜的厚度分布图。非常快速的定位测试的点,快速测试厚度。Filmetrics F20薄膜厚度测量系统,其高,性价比高。

展会期间,作为薄膜厚度与表面轮廓测量,我司技术人员为莅临展位的客户详细解答各种疑难问题,与新老客户进行了十分愉快的沟通与交流。赢得了新老客户的*。

 

在未来的发展路上,我司会以赴,将我们经营理念“真诚,专注,信赖”服务于大家。

 

展会现场

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|薄膜厚度测量仪|粗糙度测量

 

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优尼康盘总现场接受CCTV采访

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参展人员合影留念

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