桌面式薄膜测厚仪美国Filmetrics F50 光学膜厚测量仪自动化薄膜厚度绘图系统 依靠 F50的光谱测量系统，可以很简单快速地获得Z大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。

型号：Filmetrics-F50

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics 已经让光学轮廓测量变得容易承受。Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪使用垂直扫描干涉技术 （VSI ），结合可选的高精度相移干涉技术（PSI ） 来提供纳米尺度的表面形貌测量

型号：Profilm-3D

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics 光学薄膜测厚仪 F40 结合显微镜的薄膜测量系统 ，精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

型号：F40

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics 光学膜厚测量仪 依靠 F60 的光谱测量系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度分布图。 采用 r-θ 极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。 在约 45 秒的时间就可以扫描完标准 49 点分布图

型号：F60-t

更新日期：2023-06-05

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