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美国Filmetrics F50 光学薄膜厚度测量仪

简要描述:桌面式薄膜测厚仪美国Filmetrics F50 光学膜厚测量仪自动化薄膜厚度绘图系统 依靠 F50的光谱测量系统,可以很简单快速地获得Z大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。

  • 产品型号:Filmetrics-F50
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-06-05
  • 访  问  量:3215
产品详情

F50薄膜厚度测量仪



自动化薄膜厚度绘图系统

依靠F50的光谱测量系统,可以很简单快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。

系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式,也可以编 辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。

可测样品膜层

基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:

膜厚测量仪|光学轮廓仪|Filmetrics|优尼康|粗糙度测量

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选择Filmetrics的优势

• 桌面式薄膜厚度测量

• 24小时电话,邮件和在线支持

• 所有系统皆使用直观的标准分析软件

附加特性

• 嵌入式在线诊断方式

• 免费离线分析软件

• 精细的历史数据功能,帮助用户有效存储,重现与绘制测试结果






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