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  • 手持式合金分析仪是基于X射线理论而诞生的
    2022-3-13 950
    手持式合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术,可用于确认物质里的特定元素,同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长(λ)及能量(E)确定具体元素,而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来,XRF度普术就能测定物质的元素构成。手持式合金分析仪是基于X射线理论而诞生的,它主要用于军工、航天、钢铁、石化、电力、制药等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和军事制造领域的快速成份鉴定工具。每一个原子都有自己固定数量的电子(负电微粒)运行在核子周围的轨道上。...

  • 光学轮廓仪是一款非常精密的检测仪器
    2022-2-21 994
    光学轮廓仪是一款非常精密的检测仪器,它可以检测工件的粗糙度,并且数据十分。高精度轮廓仪是对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检验的仪器,作为精密测量仪器在汽车制造和铁路行业的应用十分广泛。光学轮廓仪通过对被测物进行缺陷检测,实现了被测物件的在线连续式缺陷检测,及时的防止带缺陷的轧材进入下一生产环节,提高了被测物的成品率和检测效率。光学轮廓仪具备四只二维激光测量传感器,每只二维激光传感器负责检测一个方位的轮廓情况,四只传感器*可以满足轧材的同一截面的轮廓检测,这样随着被测...

  • 盘点光学膜厚测量仪的那些使用注意事项
    2022-1-26 1106
    膜厚仪做为一种测量物体厚度的仪器,在很多的行业领域都得到了广泛的应用,尤其是涂层测厚仪,拥有测量精度高,利用探头接触测量方式的优点。光学膜厚测量仪是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子,俗称为二次荧光,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。光学膜厚测量仪的使用注意事项:1.零点校准在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准,因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量,零点校准可以消除前次测量有参数的影响,能够降低测量的结果的误差,使测量结果更加。2.基体厚度不宜过薄在使用...

  • XRF镀层测厚仪的工作原理和影响测量因素
    2022-1-24 1015
    XRF镀层测厚仪主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。XRF镀层测厚仪的测量工作原理:1、磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢铁银镍。此种方法测量精度高(如:铁等磁性材料)2、涡流测厚法:涡流测量原理是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。与磁感应测厚法一样,涡流测厚法也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程1...

  • XRF手持式合金分析仪的原理和主要特点有哪些?
    2021-12-24 1021
    XRF手持式合金分析仪在金属制造行业中,材料、半成品、成品的质量与质量控制(QA/QC)是*的,混料或使用不合格材料必给企业带来损失。XRF手持式合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的飞机的各种制造业。已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的仪器。XRF手持式合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术,可用于确认物质里的特定元素,同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长(λ)及能量(E)确定具体元素,而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来,XRF度普术...

  • 光学膜厚测量仪采用的是一种XRF光谱分析技术
    2021-11-23 1045
    光学膜厚测量仪采用的是一种XRF光谱分析技术,X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子,出现壳层空穴,当外层电子从高轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时,就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。使用光学膜厚测量仪的注意事项有以下三点:一、注意保持试件表面的清洁和平整的光学膜厚测量仪是一个非常精密的仪器,如果我们要想我们的测量数据能够保持的话,就要保持试件表面的清洁,及时的处理掉试件表面的附...

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