使用XRF镀层测厚仪要注意哪八点事项呢

　　XRF镀层测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供、快速的分析。基于微软中文视窗系统的中文版应用软件包，实现了对CMI主机的自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定多种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足特定分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、数据变动范围、相对偏差等多种数据分析模式。

　　XRF镀层测厚仪采用二次荧光法：它的原理是物资经X射线或粒子射线照射后，由于吸收过剩的能量而酿成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物资必需将过剩的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度丈量仪或成份分析仪的原理就是丈量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

　　XRF镀层测厚仪测量注意事项：

　　1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

　　2、测量时侧头与试样表面保持垂直。

　　3、测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

　　4、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

　　5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

　　6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

　　7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

　　8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触。