哪些因素会影响薄膜厚度测量仪的性呢？

　　薄膜厚度测量仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和产品质量*的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

　　1、薄膜厚度测量仪基体金属磁性质

　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准

　　基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

　　2、薄膜厚度测量仪基体金属厚度

　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

　　3、薄膜厚度测量仪边缘效应

　　仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

　　5、 薄膜厚度测量仪测头压力

　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。

　　4、 薄膜厚度测量仪曲率

　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

　　6、薄膜厚度测量仪表面粗糙度

　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。