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光学薄膜厚度测量仪的四个组成结构

2021-08-20 [498]
   光学薄膜厚度测量仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,对板材厚度进行自动控制。
  光学薄膜厚度测量仪系统构成
  1、光学薄膜厚度测量仪用户操作终端
  可显示整个系统的检测、设定、偏差值;用户通过软件显示页面可直接控制和操作测厚仪。主操作页显示正常操作所需的各种数据。维护页面显示系统正常工作时各种参数高压反馈、管电流、灯丝电流、射线源温度等。一些与用户质量有关的重要数据如厚差曲线、厚度与长度关系曲线均可打印。
  2、光学薄膜厚度测量仪冷却系统
  本系统配备有冷却装置,该装置的关键部件,压缩机组均采用进口原装组件,具有可靠性高、噪音小、控温精度高,经久耐用等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。延长了关键部件的使用寿命。
  3、X射线发射源及接收检测头
  采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中绝缘和良好冷却,高压等级根据所造型号不同有所区别,加上传感器具有的温度自动保护与报警功能,提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造了设备系统高可靠性。
  检测头采用电离室和电子前置放大器组成高性能电离室检测头,离子室设计具有大空间,高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元,延长系统的使用寿命。
  4、光学薄膜厚度测量仪主控制柜
  主控制柜是一个自由立式控制台,是个系统的心脏。控制柜负责采集和处理从前置放大器传来的信号,负责测厚仪数据处理和与轧机AGC系统的接口信号输出,为轧机AGC系统提供测厚数据及控制信号。