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  • F60-Filmetrics膜厚测量仪

    -Filmetrics膜厚测量仪 F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率,但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机,以及升级到全自動化晶圆传输的机型。

    型号:F60
    更新日期:2023-06-05
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  • F54-Filmetrics膜厚测量仪

    -Filmetrics膜厚测量仪-F54系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米 可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.仅需具备基本电脑技能的任何人可在数分钟内自行建立配方

    型号:F54
    更新日期:2023-07-24
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  • F50-Filmetrics光学薄膜厚度测量仪

    -Filmetrics光学薄膜厚度测量仪:依靠F50的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度,测试非常快速,大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台,确保能够做成千上万次测量。

    型号:F50
    更新日期:2023-06-05
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  • F40-Filmetrics膜厚测量仪

    Filmetrics F40-EXR 搭配 SS-Microscope-EXR-1系统 -Filmetrics膜厚测量仪的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,F40是不错的选择。

    型号:F40
    更新日期:2023-06-05
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  • F10-RT-Filmetrics膜厚测量仪

    -Filmetrics膜厚测量仪:以真空镀膜为设计目标,F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分,用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。

    型号:F10-RT
    更新日期:2023-06-05
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  • F10-HC-Filmetrics膜厚测量仪

    -Filmetrics膜厚测量仪:以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件的模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。

    型号:F10-HC
    更新日期:2023-06-05
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  • F10-AR-Filmetrics膜厚测量仪

    Filmetrics膜厚测量仪:F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。 虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器,应用几项技术, F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训,就可以进行厚度测量。

    型号:F10-AR
    更新日期:2023-06-05
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  • F3-sX系列Filmetrics薄膜厚度测量仪

    Filmetrics薄膜厚度测量仪:F3-sX系列膜厚测量仪利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀,F3-sX系列配置10微米的测试光斑直径因而可以快速容易的测量其他膜厚测试仪器不能测量的材料膜层。而且仅在几分之一秒内完成。

    型号:F3-sX系列
    更新日期:2023-08-25
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