盘点光学膜厚测量仪的八个功能

　　盘点光学膜厚测量仪的八个功能

　　光学膜厚测量仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大。

　　光学膜厚测量仪具有高性价比，有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量、测量时间短等特点；具有高生产力、高再现性，能有效控制产品质量，节约电镀成本。可以进行材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析。可直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等有的时候我们会发现镀层膜厚仪测量的数据不是很。遇到这个问题的时候就要先搞清楚究竟是什么原因造成设备不能够正常使用，然后想办法把这个问题给排除掉就可以了。

　　光学膜厚测量仪功能：

　　1、自动对焦功能。电镀膜厚仪配备激光自动对焦功能，能够对焦，提高测量效率。

　　2、电镀膜厚仪具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量。

　　3、采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成的损坏。

　　4、选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。

　　5、电镀膜厚仪支持多种语言的软件系统。简体中文、繁体中文、英语、日语、韩语。

　　6、搭载样品尺寸的兼容性可适用于各种样品，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品，从较厚的样品(机械零部件)之大型线路板(PCB)及电子元器件等。

　　7、多种修正功能。基材修正、已知样品修正、人工输入修正。

　　8、即时生成测量报告的便捷性。