光学膜厚测量仪在测量的时候不会损伤

　　光学膜厚测量仪能够避免前期的样品处理，甚至是不需要样品来进行试样工作。传统的测厚仪，在测量物件时，需要进行样品的处理，使样品与被测量物件一致，在测量时直接应用于样品测量。而仪器的使用是直接应用于被测量物体。这样的一个过程便为我们节省了不少的工作以及资源。利用光学膜厚测量仪，它可以避免了被测量物件的损坏。之所以普通传统的测厚仪需要用到样品来进行试测，就是因为在测量时，会对物体造成一定程度的表面损坏，为了避免物件的损坏，才会需要应用样品。而光学膜厚测量仪，虽然直接应用于物件表面，但其它放射出来的光却是一样没有实质的事物，在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。

　　光学膜厚测量仪特性：

　　a.测量膜厚和折射率，膜厚重复精度达１纳米，折射率重复精度达0.01；

　　b.有配气浮平台便于移动大片玻璃；

　　c.质量控制,生产过程控制；

　　d.用于检测太阳能AR减反膜玻璃生产线中整片玻璃的在线检测或离线抽检。

　　2.光学膜厚测量仪AR2 -ONLINE配套软件特性：

　　a.菜单管理；

　　b.实时在线或离线抽检监控和历史数据界面；

　　c.输出至SQL服务器；小型内置式SQL；

　　d.光学膜厚测量仪可根据客户要求定制界面。

　　光学膜厚测量仪的使用并不仅仅有着以上这些优点，它的优点还是在于它的jīng确度比普通的测厚仪高。既使是很微小的物件，也可以利用这样的一种仪器来测量它的厚度，而且还不用担心物件会因此而受到破坏。于是，光学膜厚测量仪也就成了人们眼中的香勃勃。