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光学膜厚测量仪在测量的时候不会损伤

2021-12-10 [403]
  光学膜厚测量仪能够避免前期的样品处理,甚至是不需要样品来进行试样工作。传统的测厚仪,在测量物件时,需要进行样品的处理,使样品与被测量物件一致,在测量时直接应用于样品测量。而仪器的使用是直接应用于被测量物体。这样的一个过程便为我们节省了不少的工作以及资源。利用光学膜厚测量仪,它可以避免了被测量物件的损坏。之所以普通传统的测厚仪需要用到样品来进行试测,就是因为在测量时,会对物体造成一定程度的表面损坏,为了避免物件的损坏,才会需要应用样品。而光学膜厚测量仪,虽然直接应用于物件表面,但其它放射出来的光却是一样没有实质的事物,在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。
  光学膜厚测量仪特性:
  a.测量膜厚和折射率,膜厚重复精度达1纳米,折射率重复精度达0.01;
  b.有配气浮平台便于移动大片玻璃;
  c.质量控制,生产过程控制;
  d.用于检测太阳能AR减反膜玻璃生产线中整片玻璃的在线检测或离线抽检。
  2.光学膜厚测量仪AR2 -ONLINE配套软件特性:
  a.菜单管理;
  b.实时在线或离线抽检监控和历史数据界面;
  c.输出至SQL服务器;小型内置式SQL;
  d.光学膜厚测量仪可根据客户要求定制界面。
  光学膜厚测量仪的使用并不仅仅有着以上这些优点,它的优点还是在于它的jīng确度比普通的测厚仪高。既使是很微小的物件,也可以利用这样的一种仪器来测量它的厚度,而且还不用担心物件会因此而受到破坏。于是,光学膜厚测量仪也就成了人们眼中的香勃勃。