薄膜厚度测量仪的原理和性能优势你知道吗？

　　薄膜厚度测量仪是针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。它是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。

　　膜厚仪原理：

　　磁性测厚法是利用被测试样与标准磁体之间的吸引力的变化来转换成镀层的厚度。这种方法只能适用于对磁性能敏感的基体上的非磁性镀层，如钢铁基体上的铜、锌、锡等镀层。钢件上的镍镀层就不能很好地测量出结果。

　　磁性测厚法的优点是对钢铁基体上的非磁性镀层提供了一种快速的测量方法，其准确度可达85%-90%。测量样件的粗糙度对测量结果有影响。如果被测件的基体很薄时，比如样片厚度低于0.25mm时，会有较大测量误差，这时可以在样片后另加一个与基体材料相同的厚一些的无镀层材料来减少误差。

　　性能优势：

　　1、精密的三维移动平台；

　　2、的样品观测系统；

　　3、图像识别；

　　4、轻松实现深槽样品的检测；

　　5、四种微孔聚焦准直器，自动切换；

　　6、双重保护措施，实现无缝防撞；

　　7、薄膜厚度测量仪采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度。