椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种吸引力的测量仪器。椭偏仪应用领域：半导体、微电子、MEMS、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科学研究、物理、化学、生物、医药。椭偏仪可测材料：半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、金属钝化膜、自组装单分子层、多层膜物质和石墨烯等等。椭偏仪构造：在椭偏仪的测量中使用不同的硬件配置，但每种配置都必须能产生已知...

3D光学表面轮廓仪的工作原理和应用为什么需要测量表面形貌？在生产中，微观上的表面形貌对工程零件的许多技术性能的评价具有直接的影响，而且表面三维评定参数由于能更、更真实地反映零件表面的特征及衡量表面的质量而越来越受到重视，因此表面三维微观形貌的测量就越显重要。通过对三维形貌的测量可以比较地评定表面质量的优劣，进而确认加工方法的好坏及设计要求的合理性，这样就可以反过来通过指导加工、优化加工工艺以加工出高质量的表面，确保零件使用功能的实现。3D光学表面轮廓仪的测量原理：光源发出的光...

3D光学轮廓仪的特点以及应用3D光学轮廓仪常用于测定样品中被测区域的表面粗糙情况与轮廓形貌。本文以优尼康科技有限公司提供的一款3D光学轮廓仪为例，让我们来了解一下吧。产品特点：光学轮廓仪对各种产品，部件和材料的表面轮廓，粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用：传统的机械零件由于受加工设备的限制，对精度包括平面度，粗糙度的要求常规下停留在微米量级。但随着技术发展，人们对机械零件的加工精...

光学膜厚仪是一种非接触式测量仪器，一般会运用在生产厂商生产产品的过程，由于误差经常会导致产品全部报废，这时候就需要运用光学膜厚仪来介入到生产环境，避免这种情况的发生。典型应用领域半导体制造业，光刻胶、氧化物、硅或其他半导体膜层的厚度测量。生物医学原件：聚合物/聚对二甲苯；生物膜/球囊壁厚度；植入药物涂层。微电子：光刻胶；硅膜；氮化铝/氧化锌薄膜滤镜液晶显示器：盒厚；聚酰亚胺；导电透明膜由于是光学测量，在测量时候无须担心破坏样品，让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对...

X射线荧光（XRF）镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款仪器，优尼康科技有限公司提供的一款BowmanBA-100Optics为例，来简单了解下，什么是台式X射线荧光镀层测厚仪。BowmanBA-100Optics机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。BowmanBA-100Optics机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。良好的测...

主动式防震台--AVI系列隔振方案简述优尼康（Unicorn）一直为广大的用户提供的环境改善方案，为电子显微镜和类似的大型研究仪器提供业界的主动隔振性能(从0.5Hz开始)。AVI系列隔振方案：通过消除，干扰测量的破坏性低频振动噪声，帮助用户从显微镜中获得更多信息。其中AVI系列减震平台采用了超薄型和模块化设计，简化了安装过程，从而在安装时不需要为大多数仪器安装的起重设备（这个方案适合绝大数的EMs)。优尼康提供的场地设计方案的工作流程，人性化的定制化安装选型：按客户的场地测...