首页 > 产品中心 > 薄膜厚度测量 > 光学薄膜厚度测量仪 > F10-HC-Filmetrics膜厚测量仪

-Filmetrics膜厚测量仪

简要描述:-Filmetrics膜厚测量仪:以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件的模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。

  • 产品型号:F10-HC
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-06-05
  • 访  问  量:2072
产品详情

F10-HC薄膜厚度测量仪


 

有价格优势的薄膜测量系统

以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统,能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度,加上F10-HC软件的模拟演算法的设计,能够在厚膜中测量单层与多层(例如:底漆或硬涂层等)。


简易操作界面

现在,具有新样板模式功能的F10-HC将更容易使用,这个功能允许用户汇入样品的影像(请参考下页),并直接在影像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是否有效,并将测量的结果显示在汇入的影像上让用户分析。


不需要手动基准校正

F10-HC现在能够执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时间这个创新的方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使用者立即的执行样本的测量。


背面反射干扰

背面反射干扰对厚度测量而言是一个光学技术的挑战,具有F10-HC系统的接触式探头能将背面反射干扰的影响小化,使用者能以较高的度来测量涂层厚度。

1636435898610535.png

选择Filmetrics的优势

• 桌面式薄膜厚度测量

• 24小时电话,邮件和在线支持

• 所有系统皆使用直观的标准分析软件

附 加 特 性

• 嵌入式在线诊断方式

• 免费离线分析软件

• 精细的历史数据功能,帮助用户有效地存储,重现与绘制测试结果








留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
产品中心
相关文章