HORIBA 一键式全自动快速椭偏仪是新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。

型号：Auto SE

更新日期：2023-08-22

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HORIBA 智能型多功能椭偏仪，多功能性设计，配置灵活，具备多角度测量能力，可方便实现在线与离线配置切换。是一款针对单层和多层薄膜进行简单，快速，表征和分析的工具。

型号：Smart SE

更新日期：2023-06-06

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HORIBA 研究级经典型椭偏仪是一种无损无接触的光学测量技术，基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变，通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等，可测厚度范围为几埃至几十微米。此外，还可以测试材料的反射率及透过率。

型号：UVISEL Plus

更新日期：2023-06-06

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Film Sense FS-1™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和的数据。

型号：Film Sense FS-1

更新日期：2023-07-24

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