-
- RC2J.A. Woollam 双旋转补偿器光谱椭偏仪
J.A. Woollam 双旋转补偿器光谱椭偏仪。RC2 采用双旋转补偿器设计，可完整采集 4×4 穆勒矩阵的 16 个元素，同步采集 1000 个以上波长点，光谱覆盖 193-2500nm（视配置），适合各向异性材料、液晶器件与纳米结构表征。
- 型号：RC2
- 更新日期：2026-10-10 ￥面议
-
- M-2000J.A. Woollam 旋转补偿式光谱椭偏仪
J.A. Woollam 旋转补偿式光谱椭偏仪。M-2000 采用旋转补偿椭偏（RCE）架构配合高速 CCD，单次同步采集 700 个以上波长，采集速率每秒 20 次，光谱覆盖 193-1690nm（视配置），支持腔室原位与台式离线两种配置，适合半导体、显示、光伏薄膜表征。
- 型号：M-2000
- 更新日期：2026-10-10 ￥面议
-
- theta-SEJ.A. Woollam 晶圆 Mapping 椭偏仪
J.A. Woollam 晶圆 Mapping 椭偏仪。theta-SE 是面向薄膜均匀性表征的台式光谱椭偏仪，内置 300mm Mapping 台，一键完成薄膜厚度与折射率的全片均匀性测量，光谱 400-1000nm 共 190 个波长点，单次采集可快至 0.3 秒，适合半导体晶圆的均匀性检测与量产监控。
- 型号：theta-SE
- 更新日期：2026-10-10 ￥面议
-
- alpha 2.0J.A. Woollam 台式光谱椭偏仪
J.A. Woollam 台式光谱椭偏仪。alpha 2.0 是一台紧凑型台式光谱椭偏仪，光谱 400-1000nm 共 190 个波长点，支持 65°、70°、75° 三角度手动切换，全光谱采集 5 至 10 秒，一键操作即可获得薄膜厚度与光学常数，适合常规来料检验与教学实验。
- 型号：alpha 2.0
- 更新日期：2026-10-10 ￥面议
-
- Auto SEHORIBA 椭圆偏振光谱仪
HORIBA Auto SE 椭圆偏振光谱仪是一种新型薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。它是用于快速薄膜测量和器件质量控制的解决方案。专为薄膜测量设计，一键式操作实现高效率。
- 型号：Auto SE
- 更新日期：2025-06-24 ￥面议
-
- Smart SEHORIBA 椭圆偏振光谱仪
HORIBA 椭圆偏振光谱仪，HORIBA Smart SE 椭圆偏振光谱仪是一种薄膜测量工具。仅需简单的几个按钮，几秒钟内即可自动完成样品测量和分析，并提供完整的薄膜特性分析报告，包括薄膜厚度、光学常数、表面粗糙度和薄膜的不均匀性、反射率或透过率。它是用于快速薄膜测量和器件质量控制的解决方案。为薄膜测量设计，一键式操作。
- 型号：Smart SE
- 更新日期：2025-09-12 ￥面议
-
- UVISEL PlusHORIBA 研究级椭圆偏振光谱仪
HORIBA UVISEL Plus 相位调制型椭圆偏振光谱仪基于新版的电子设备，数据处理和高速单色仪，Fastacq技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集。FastAcq为薄膜表征特殊设计，双调制技术使您可以获得完整的测试结果。相位调制与消色差光学设计的结合提供了特别的膜厚测试效果。配备双单色仪系统的特殊设计满足用户的期望值，通过模块化的设计，更多的附件选择，使得仪器使用能变得灵活。
- 型号：UVISEL Plus
- 更新日期：2025-06-24 ￥面议
-
- FS-8Film Sense 多波长椭偏仪
Film Sense FS-8多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现可靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就可以获得准确的数据。还可以测量大多数样品的光学常数和其他薄膜特性。
- 型号：FS-8
- 更新日期：2025-09-23 ￥面议
