Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪产品介绍：

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪产品特点优势：

• 自动化薄膜厚度绘图系统，快速定位、实时获得结果；

• 可测样品膜层：基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量；

• 测绘结果可用2D或3D呈现，方便用户从不同的角度检视；

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪测量原理：

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪工业应用：

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪参数：

Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪测量图：