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  • P-7台阶仪

    P-7台阶仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。

    型号:P-7
    更新日期:2023-06-05
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  • D-600台阶仪

    Alpha-Step D-600台阶仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和的光学系统以及加强视频控制。

    型号:D-600
    更新日期:2019-07-22
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  • D-500台阶仪

    Alpha-Step D-500台阶仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和的光学系统以及加强视频控制。

    型号:D-500
    更新日期:2023-06-05
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  • Zeta-20白光共聚焦

    Zeta-20白光共聚焦是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot™技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。

    型号:Zeta-20
    更新日期:2023-07-24
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  • Zeta-20台式光学轮廓仪

    Zeta-20台式光学轮廓仪是一款紧凑牢固的全集成光学轮廓显微镜,可以提供3D量测和成像功能。该系统采用ZDot技术,可同时采集高分辨率3D数据和True Color(真彩)无限远焦点图像。 Zeta-20具备Multi-Mode(多模式)光学系统、简单易用的软件、以及低拥有成本,适用于研发及生产环境。

    型号:
    更新日期:2024-08-08
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  • KLA P-7探针式表面轮廓仪 P-7

    Surface Stylus Profilers 探针式表面轮廓仪 P-7KLA是半导体在线检测设备市场的供应商,在半导体、数据存 储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着市占率。P-7 是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统,历经技术积累和不断迭代更新,集合众多技术优势。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统 的成功基础之上。

    型号:KLA P-7
    更新日期:2024-08-08
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  • Profilm-3DFilmetrics Profilm3D 光学轮廓仪

    Filmetrics 已经让光学轮廓测量变得容易承受。Filmetrics Profilm3D 光学轮廓仪使用垂直扫描干涉技术 (VSI ),结合可选的高精度相移干涉技术(PSI ) 来提供纳米尺度的表面形貌测量

    型号:Profilm-3D
    更新日期:2024-08-08
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