P-170台阶仪是cassette-to-cassette探针式轮廓仪，可提供几纳米至一毫米的台阶高度测量功能，适用于生产环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。 P-170具有的图案识别算法、增强的光学系统和的平台，这了性能的稳定和系统间配方的无缝移植- 这是24x7生产环境的关键要求。

型号：P-170

更新日期：2023-07-24

￥面议

P-17台阶仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达200mm而无需图像拼接。

型号：P-17

更新日期：2023-07-24

￥面议

P-7台阶仪支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量，适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。

型号：P-7

更新日期：2023-06-05

￥面议

Alpha-Step D-600台阶仪能够测量从几纳米到1200微米的2D和3D台阶高度。 D-600还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D和3D测量。 D-600包括一个电动200毫米样品卡盘和的光学系统以及加强视频控制。

型号：D-600

更新日期：2019-07-22

￥面议

Alpha-Step D-500台阶仪能够测量从几纳米到1200微米的2D台阶高度。 D-500还可以在研发和生产环境中支持粗糙度、翘曲度和应力的2D测量。 D-500包括一个手动140毫米平台和的光学系统以及加强视频控制。

型号：D-500

更新日期：2023-06-05

￥面议

Surface Stylus Profilers 探针式表面轮廓仪 P-7KLA是半导体在线检测设备市场的供应商，在半导体、数据存 储、 MEMS 、太阳能、光电子以及其他领域中有着市占率。P-7 是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新，集合众多技术优势。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统 的成功基础之上。

型号：KLA P-7

更新日期：2024-08-08

￥面议