产品详情
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品介绍:
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标,F10-RT 薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品特点优势:
同步测量薄膜的反射率/穿透率,1s内获得结果;
简单快速、易于使用的分析优点;
设备具有完整标准配置,确保设备高度可靠;
测量结果能被快速地导出和打印。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品测量原理:
当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射,由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉,从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率,可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(越多的震荡代表越大的厚度),同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品应用与膜层范例:
Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪产品参数:
波长范围: | 190nm-1700nm | 光源: | 钨卤素灯、 氘灯 |
厚度测量范围: | 1nm-150μm | 测量精度: | 0.01nm |
光斑大小: | 6mm | 稳定性: | 0.05nm |
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