3D白光干涉轮廓仪
KLA Profilm3D 光学轮廓仪产品介绍:
KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉轮廓仪。KLA Profilm3D 光学轮廓仪使用垂直干涉扫描(WLI)技术与相位干涉(PSI)技术。以较低的价格实现次纳米级的表面形貌研究。采用白光干涉原理,不损伤样品。
KLA Profilm3D 光学轮廓仪产品特点优势:
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视场范围:Profilm3D仅用10倍物镜就提供了达到2mm的视场范围,同时其最大4倍光学变焦的功能满足了不同应用时切换多个物镜的需求。这些都进一步降低了采购需求成本。
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100mm自动XY样品台:每台Profilm3D光学轮廓仪都配备100mm自动XY样品台,4孔物镜转台和手动调平装置作为标准配置。
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性价比高:以较低的价格实现次纳米级的表面形貌研究。
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非接触式高精度测量:垂直分辨率可达亚纳米级(<1nm),适用于敏感材料(如软质聚合物、生物样本)的无损检测。
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测量简单:Profilm3D光学轮廓仪软件能直观的反应包括表面粗糙度,形状和台阶高度的测量。在数秒内,您可以获得平面和曲面表面上测量所有常见的粗糙度参数。也可以选择拼接功能软件升级来组合多个影像以提供大面积测量。
KLA Profilm3D 光学轮廓仪产品测量原理:
KLA Profilm3D 光学轮廓仪采用白光作为光源,通过分光镜将光束分为两路:一路照射被测样品表面,另一路投射至参考镜表面,两束反射光在CCD相机上形成干涉条纹。样品表面的微小高度差导致光程差变化,通过分析干涉条纹的明暗分布及位置偏移,计算表面各点的相对高度,生成三维形貌数据。
KLA Profilm3D 光学轮廓仪主要应用:
台阶高度 | 纹理 |
外形 | 应力 |
薄膜厚度 | 缺陷检测 |
KLA Profilm3D 光学轮廓仪产品参数:
厚度范围(WLI) | 50nm-10mm | 厚度范围(PSI) | 0-3µm |
RMS重复性(WLI): | 1.0nm | RMS重复性(PSI): | 0.1nm |
台阶高度准确度: | 0.7% | 台阶高度精确度: | 0.1% |
样品反射率范围: | 0.05%-100% | ISO25178兼容: | 是 |
更多参数可联系我们获取 |
KLA Profilm3D 光学轮廓仪图:
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