Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪以真空镀膜为设计目标，F10-RT 薄膜厚度测量仪只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需简单操作。用户就能进行 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度测量仪的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。

型号：F10-RT

更新日期：2025-06-24

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无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，Filmetrics F20 单点光学膜厚测量仪适用于各种应用。

型号：F20

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪的光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度测量仪。使用先校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得厚度及光学参数值。

型号：F40

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪依靠光谱测量系统，可以简单且快速地获得直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。Filmetrics F50 自动Mapping膜厚测量仪配置精度高使用寿命长的移动平台，以求能够做成千上万次测量。

型号：F50

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F54-XY-200 自动光学膜厚测量仪借助光谱反射系统，可以测量尺寸达200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。

型号：F54-XY-200

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F20 白光干涉膜厚测量仪是一款高精度、多功能的测量设备，能够快速测定薄膜厚度、光学常数、反射率和透过率等特性。其非接触式测量方式适合各种脆弱或敏感材料，具备纳米级分辨率，测量范围广（1nm-3mm）。该仪器适用于多种应用场景，包括半导体、光学、生物医学等领域。F20膜厚仪可在数秒内提供准确的测量结果，支持单层及多层薄膜分析，为科研和工业生产提供可靠支持。

型号：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F54-XYT-300 自动测量光学膜厚仪借助F54-XYT-300的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度。电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，速度达到每秒两点。

型号：F54-XYT-300

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F32 光反射式膜厚仪特殊的光谱分析系统采用半宽的3u rack- mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置(EXR和UVX版本至多两个位置)。F32膜厚仪软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。还提供可选的透镜组件，以便于集成到现有的生产装置上。

型号：F32

更新日期：2025-06-24

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