-Filmetrics膜厚测量仪：以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层（例如：底漆或硬涂层等）。

型号：F10-HC

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics膜厚测量仪:F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。 虽然价格大大低于当今绝大多数同类仪器，应用几项技术， F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。

型号：F10-AR

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics薄膜厚度测量仪：F3-sX系列膜厚测量仪利用光谱反射原理，可以测试众多半导体及电解层的厚度，可测大厚度达3毫米。此类厚膜，相较于较薄膜层表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列配置10微米的测试光斑直径因而可以快速容易的测量其他膜厚测试仪器不能测量的材料膜层。而且仅在几分之一秒内完成。

型号：F3-sX系列

更新日期：2023-08-25

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Film Sense FS-1多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可 靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和的数据。

型号：Film Sense FS-8

更新日期：2025-04-27

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Filmetrics 光学膜厚测量仪测厚仪 嵌入式在线诊断 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果

型号：F37

更新日期：2024-08-08

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Filmetircs 光学膜厚测量仪 满足薄膜厚度范围15nm到3mm的厚度测试系统，如需了解更多 光学膜厚测量仪膜厚测试仪 F3-sX 信息，咨询。

型号：F3-sX

更新日期：2023-08-25

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桌面式薄膜测厚仪美国Filmetrics F50 光学膜厚测量仪自动化薄膜厚度绘图系统 依靠 F50的光谱测量系统，可以很简单快速地获得Z大直径 450 毫米的样品薄膜的厚度分布图。

型号：Filmetrics-F50

更新日期：2024-08-08

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Filmetrics 光学薄膜测厚仪 F40 结合显微镜的薄膜测量系统 ，精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

型号：F40

更新日期：2024-08-08

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