Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪是以Filmetrics F20 白光干涉仪膜厚仪为基础所发展而来。F10-HC 薄膜厚度测量系统接触式探头大大降低反射干扰的影响，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。

型号：F10-HC

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪是操作简单且高性价比的减反射与硬涂层检测设备。Filmetrics F10-AR 薄膜厚度测量仪使得自动测试眼科涂层变得又快又简便。现在，不论⽣产线操作⼈员还是研发技术⼈员都能在⼏秒钟内检测和记录涂层厚度情况。

型号：F10-AR

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics F3-sX 光学厚膜测厚仪利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，F3-sX系列膜厚仪配置10微米的测量光斑，从而可以容易地测量其他膜厚测量仪器不能测量的膜层，并且仅在几分之一秒内完成。F3-sX膜厚仪在Si晶圆厚度测量、护涂层、IC芯片失效分析、厚光刻胶等方面优异表现。

型号：F3-sX

更新日期：2025-06-24

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Filmetrics 光学膜厚测量仪测厚仪 嵌入式在线诊断 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效的存储，重现与绘制测量结果

型号：F37

更新日期：2024-08-08

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Filmetircs光学膜厚测量仪满足薄膜厚度范围15nm到3mm的厚度测试系统，如需了解更多 光学膜厚测量仪膜厚测试仪 F3-sX 信息，咨询。

型号：F3-sX

更新日期：2025-08-14

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