-Filmetrics光学膜厚测量仪：F32的光谱分析系统采用半宽的3U rack-mount底盘，加上附加的分光计，可达到四个不同的位置（EXR和UVX版本多两个位置）。F32软件可以通过数字I/O或主机软件来控制启动/停止/复位测量。测量数据可以自动导出到主机软件中进行统计过程控制。Filmetrics还提供可选的透镜组件，以便于集成到现有的生产装置上。

型号：F32

更新日期：2024-07-24

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Film Sense FS-8™多波长椭偏仪采用寿命长 LED 光源和非移动 式部件椭偏探测器，可在操作简单的紧凑型椭偏仪中实现快速和可靠地薄膜测量。大多数厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要简单的 1 秒测量，就 可以获得非常精密和的数据。

型号：Film Sense FS-8

更新日期：2025-04-27

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-Filmetrics膜厚测量仪 F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及升级到全自動化晶圆传输的机型。

型号：F60

更新日期：2023-06-05

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-Filmetrics膜厚测量仪-F54系列的产品能以一个电动R-Theta 平台自动移动到选定的测量点以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度, 样品直径达450毫米 可选择数十种内建之同心圆,矩形,或线性图案模式,或自行建立无数量限制之测量点.仅需具备基本电脑技能的任何人可在数分钟内自行建立配方

型号：F54

更新日期：2023-07-24

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-Filmetrics光学薄膜厚度测量仪：依靠F50的光谱测量系统，可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。

型号：F50

更新日期：2023-06-05

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Filmetrics F40-EXR 搭配 SS-Microscope-EXR-1系统 -Filmetrics膜厚测量仪的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，F40是不错的选择。

型号：F40

更新日期：2023-06-05

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-Filmetrics光学膜厚测量仪：不论您是想要知道薄膜厚度、光学常熟，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，F20适用于各种应用：

型号：F20

更新日期：2024-07-24

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-Filmetrics膜厚测量仪：以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行低/高分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。 可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。

型号：F10-RT

更新日期：2023-06-05

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